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TD‑T30436 后置式密度天平采用分体后置式传感器结构，依托阿基米德浮力法原理开展检测，搭载万分之一高精度称重传感器，密度分辨率可达 0.0001g/cm³，可同时完成固体、液体密度与浓度检测，兼顾精密称量功能。后置式的结构设计能够有效降低震动带来的测量干扰，整机配备完整密度测试支架组件，开箱即可进行密度实验，是实验室、质检机构开展材料密度分析的高精度检测设备。
微量分析天平内部设定自动校正、带背光的图形显示屏、小质量、高精度、高要求称量、根据操作环境及用户需求选择滤波方式及结果显示方式、菜单密码保护、RS232输出，连续输出，用户自定义参数
本公司制造的LC-JA系列电子精密天平是精确、稳定、多功能与自动化一体的*电子精密 天平。采用触感反馈式按键,确保操作准确有效。天平设计制作采用全透明密封罩,外形美观,使用方便,可以满足实验室对质量分析要求。
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